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電子デバイスの信頼性向上・事例集 サイエンスフォーラム 発行 電子デバイスの信頼性向上の詳細情報
商品説明
商品詳細ご覧頂きありがとうございます。以下の書籍となります。・電子デバイスの信頼性向上・事例集 監修 塩見 弘 編集委員 岡本英男 高橋洽太郎 昭和61年11月25日 第1版第1刷 サイエンスフォーラム発行 Science Forum 定価 53,000円 全333頁 外箱付き・目次 第1部 電子デバイスの故障モードと解析 第2部 故障解析の成果の生かし方 第3部 解析装置の効果的な使い方 第4部 改善確認のための試験方法 第5部 信頼性向上のための今後の留意点・約30年前の書籍ですが、半導体デバイスの故障解析の基礎が丁寧に記載されています。・半導体デバイスのプロセス設計・不良解析を学習・研究される方や、半導体エンジニア向けかと存じます。・これから、beyond 2nmのプロジェクトが始まるとのこと。本書が一助になると幸いです。・ラピダスへの就職・転職をご検討中の方にも、一助になるかと存じます。研究者・技術者にとって、信頼性技術は切り離せません。・書き込みはございません。見落としがある可能性がございます点、ご了承下さい。・本の角にはヨレ等はございません。画像にてご確認下さい。・個人名が書かれている箇所が複数あります。発送前に、紙を貼って修正させて頂きます。以上、ご活用頂ける方、ご検討のほど、宜しくお願いいたします。商品の情報カテゴリー:本・雑誌・漫画>>>本>>>語学・辞書・学習参考書商品の状態: 目立った傷や汚れなしカラー: ホワイト系
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